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納米力學測試新方法-掃描探針聲學顯微術

納米力學測試新方法-掃描探針聲學顯微術

定  價:78 元

叢書名:普通高等教育“十三五”規(guī)劃教材普通高等院校工程實踐系列規(guī)劃教材

        

  • 作者:李法新, 周錫龍, 付際著
  • 出版時間:2017/3/1
  • ISBN:9787030515766
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:TB383.01 
  • 頁碼:185
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:32開
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讀者對象:力學、物理學、材料學等學科,特別是納米科學與技術領域的研究生、本生生以及相關研究人員

本書從AFAM的力學基礎-接觸力學出發(fā),闡述了AFAM的原理和基礎、準確度和靈敏度、粘彈性成像,以及AFAM的廣泛應用。此外,還對正在興起的多頻原子力顯微術進行了介紹。

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