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產(chǎn)品設(shè)計的電磁兼容故障排除技術(shù)

產(chǎn)品設(shè)計的電磁兼容故障排除技術(shù)

定  價:49 元

叢書名:國際電氣工程先進(jìn)技術(shù)譯叢

        

  • 作者:[美]帕特里克·G.安德烈(Patrick G.André ) 肯尼思·D.懷亞特
  • 出版時間:2019/5/1
  • ISBN:9787111620471
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN03 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:32開
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《產(chǎn)品設(shè)計的電磁兼容故障排除技術(shù)》詳細(xì)講述了產(chǎn)品的電磁干擾(EMI)故障排除技術(shù)。其目的是為工程師和技術(shù)人員提供EMI故障排除思路、故障排除方法或診斷工具。全書共11章,內(nèi)容包括電磁基礎(chǔ)、電磁干擾和電磁兼容、測量儀器、輻射發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射、輻射敏感度、傳導(dǎo)敏感度、電快速瞬變脈沖群(EFT)、靜電放電(ESD)、浪涌和雷電脈沖的瞬態(tài)抑制,以及其他特定的EMI問題。此外,本書還給出了8個附錄,為讀者提供了非常有價值的輔助信息、技術(shù)和工具。
《產(chǎn)品設(shè)計的電磁兼容故障排除技術(shù)》可供電子電氣、電子產(chǎn)品的設(shè)計人員和電磁兼容(EMI)工程師使用,也可作為高等學(xué)校工科電子信息和通信類專業(yè)師生的輔助教材.
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