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公差配合與技術測量

公差配合與技術測量

定　　價：39.8 元

叢書名：高等職業(yè)教育機電類專業(yè)系列教材

        

  • 作者：莊佃霞 解永輝 主編
  • 出版時間：2020/8/1
  • ISBN：9787111657828
  • 出 版 社：機械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類：TG801 
  • 頁碼：212
  • 紙張：
  • 版次：
  • 開本：16開
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本書是機械類、機電類專業(yè)基礎課“公差配合與技術測量”的配套教材，兼具理論性和實踐性，是聯(lián)系機械設計課程與制造工藝課程的紐帶。
全書共11章,包括：緒論，光滑圓柱的公差與配合，技術測量基礎，幾何公差及其檢測，表面粗糙度及其測量，光滑極限量規(guī)，滾動軸承的公差與配合，鍵與花鍵的公差與配合，螺紋的公差配合及測量，漸開線圓柱齒輪的公差及檢測，尺寸鏈。
本書涉及的定義、術語、概念等，均采用現(xiàn)行國家標準和行業(yè)標準的規(guī)定，對課程的基本內(nèi)容進行了整合，將基本理論和實訓內(nèi)容有機融合在一起，理論聯(lián)系實踐，詳略得當。
本書可作為高等職業(yè)院校機械制造大類各專業(yè)教學用書，也可供機械制造行業(yè)工程技術人員參考。
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