關(guān)于我們
書單推薦
新書推薦

電子器件的電離輻射效應(yīng)——從存儲(chǔ)器到圖像傳感器

電子器件的電離輻射效應(yīng)——從存儲(chǔ)器到圖像傳感器

定  價(jià):119 元

叢書名:國(guó)防電子信息技術(shù)叢書

        

  • 作者:(意)Marta Bagatin(馬爾塔·巴吉安), Simone Gerardin( 西蒙尼·杰拉爾。
  • 出版時(shí)間:2022/9/1
  • ISBN:9787121442063
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN6 
  • 頁(yè)碼:320
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
9
7
4
8
4
7
2
1
0
2
6
1
3

讀者對(duì)象:本書可供電路設(shè)計(jì)者、系統(tǒng)設(shè)計(jì)者和可靠性工程師學(xué)習(xí),也可以作為資深科學(xué)家和工程師的參考書。還可以作為該領(lǐng)域本科生、碩士生、博士生和教師學(xué)習(xí)或教授電子器件電離輻射效應(yīng)基礎(chǔ)知識(shí)的參考書。

本書完整地涵蓋了先進(jìn)半導(dǎo)體的電離輻射效應(yīng),深入探討了抗輻射加固技術(shù)。首先介紹輻射效應(yīng)的重要背景知識(shí)、物理機(jī)制、仿真輻射輸運(yùn)的蒙特卡羅技術(shù)和電子器件的輻射效應(yīng)。重點(diǎn)闡述以下內(nèi)容:商用數(shù)字集成電路的輻射效應(yīng),包括微處理器、易失性存儲(chǔ)器(SRAM和DRAM)和快閃存儲(chǔ)器;數(shù)字電路、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)和混合模擬電路中的軟錯(cuò)誤效應(yīng)、總劑量效應(yīng)、位移損傷效應(yīng)和設(shè)計(jì)加固解決方案;纖維光學(xué)和成像器件(包括CMOS圖像傳感器和電荷耦合器件CCD)的輻射效應(yīng)。
 你還可能感興趣
 我要評(píng)論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容