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公差配合與機(jī)械測(cè)量

公差配合與機(jī)械測(cè)量

定  價(jià):79 元

        

  • 作者:主編朱航科
  • 出版時(shí)間:2023/6/1
  • ISBN:9787576324907
  • 出 版 社:北京理工大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁(yè)碼:263
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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讀者對(duì)象:本書可作為高等院校、高職院校機(jī)械類各專業(yè)的教材, 也可供從事機(jī)械設(shè)計(jì)與制造、標(biāo)準(zhǔn)化、計(jì)量測(cè)試等工作的工程技術(shù)人員參考

本書共分9個(gè)項(xiàng)目, 主要內(nèi)容包括緒論、尺寸公差與檢測(cè)、幾何精度識(shí)讀與檢測(cè)、表面粗糙度檢測(cè)、圓錐公差與檢測(cè)、鍵和花鍵公差與檢測(cè)、滾動(dòng)軸承公差與檢測(cè)、螺紋公差與檢測(cè)、齒輪誤差與檢測(cè)。
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