描述傳輸通道頻域特性的散射參數(shù)（scattering parameter，S參數(shù)），用于表征被測(cè)器件線性矢量參數(shù)頻率響應(yīng)的幅頻與相頻特性，是高頻電子電路中最基本、最常用的核心指標(biāo)參數(shù)之一。本書(shū)以S參數(shù)測(cè)量與校準(zhǔn)為切入點(diǎn)，以圖文并茂的方式深入淺出地介紹了S參數(shù)的基本概念與發(fā)展歷史、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀結(jié)構(gòu)與工作原理、性能指標(biāo)解讀與評(píng)判、各種S參數(shù)校準(zhǔn)、去嵌方法原理與優(yōu)劣、不確定度分析、自動(dòng)測(cè)試技術(shù)、使用技巧和注意事項(xiàng)、行業(yè)最新發(fā)展動(dòng)態(tài)等，全面總結(jié)了迄今為止各種S參數(shù)校準(zhǔn)、去嵌方法的數(shù)學(xué)原理及該領(lǐng)域多年發(fā)展成果。

本書(shū)適合進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試相關(guān)的專業(yè)人士閱讀使用，也適合作為廣大高等院校相關(guān)專業(yè)學(xué)生以及企業(yè)、研究機(jī)構(gòu)相關(guān)專業(yè)人員的參考書(shū)。

本書(shū)創(chuàng)新點(diǎn)：

·以國(guó)家戰(zhàn)略需求為導(dǎo)向，直面卡脖子痛點(diǎn)和難點(diǎn)

·作者權(quán)威，在射頻芯片研究領(lǐng)域深耕多年

·代表我國(guó)高精度測(cè)量領(lǐng)域高精尖技術(shù)前沿