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片上系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)與優(yōu)化 讀者對(duì)象:數(shù)字IC前端設(shè)計(jì)人員、以及高等院校微電子、電子信息工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)師生
本書旨在討論片上系統(tǒng)(SoC)測(cè)試的相關(guān)問題,包括建模以及片上系統(tǒng)測(cè)試解決方案的設(shè)計(jì)和優(yōu)化。需要測(cè)試的系統(tǒng)越來越復(fù)雜,測(cè)試數(shù)據(jù)量不斷增加,如何組織測(cè)試,即測(cè)試調(diào)度變得越來越重要。本書主要站在系統(tǒng)級(jí)的角度闡明模塊化SoC測(cè)試領(lǐng)域的諸多問題!禕R》本書由三部分組成,在概述經(jīng)典測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,介紹測(cè)試大型、模塊化和異構(gòu)SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難,并詳細(xì)介紹作者團(tuán)隊(duì)為克服上述困難所做的研究工作。
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