現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)研究領(lǐng)域包括光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光偏振技術(shù)、光全息技術(shù)、光掃描技術(shù)、光散斑技術(shù)、莫爾技術(shù)、光譜技術(shù)、光纖技術(shù)，等等�！冬F(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》涉及內(nèi)容除基本光學(xué)測量技術(shù)外，主要以光干涉測試技術(shù)為主，介紹了各種光學(xué)量的測試原理及測試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)的基本理論及其發(fā)展；第三章介紹了光學(xué)材料及其基本參數(shù)的測試問題；第四章系統(tǒng)介紹了幾種常用的典型干涉儀；第五章是光電相位探測技術(shù)；第六、七章分別介紹了平面元件與球面元件測試技術(shù)；第八章介紹了非球面測試技術(shù)的基本知識及測試方法；第九章介紹了干涉測長技術(shù)；第十章介紹了莫爾條紋測量技術(shù)；第十一章介紹了光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法。
《現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》具有理論與實踐密切結(jié)合、論述系統(tǒng)深入的特點，可作為相關(guān)專業(yè)的研究生教材，也可供相關(guān)工程技術(shù)人員作為設(shè)計光學(xué)測試系統(tǒng)的參考資料。
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蘇俊宏、田愛玲、楊利紅編著的《現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》主要以光學(xué)干涉測試技術(shù)為主介紹各種光學(xué)量的測試原理及測試方法：本書語言精練、章節(jié)緊湊、系統(tǒng)性強；教材內(nèi)容與科研工作結(jié)合緊密；厚基礎(chǔ)、寬技術(shù)、重實踐。本書具有理論與實踐密切結(jié)合、論述系統(tǒng)深入的特點，可作為相關(guān)專業(yè)的研究生教材，也可供相關(guān)工程技術(shù)人員作為設(shè)計光學(xué)測試系統(tǒng)的參考資料。
目錄
前言
第一章 現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)綜述 1
第一節(jié) 研究領(lǐng)域及技術(shù)特征 1
第二節(jié) 現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)的現(xiàn)狀與應(yīng)用 4
第三節(jié) 光學(xué)測試方法的選取原則 12
第四節(jié) 現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展趨勢 14
參考文獻(xiàn) 15
第二章 光具座上的綜合檢測 16
第一節(jié) 測量中的對準(zhǔn)技術(shù)與調(diào)焦技術(shù) 16
第二節(jié) 光學(xué)測試裝置的基本部件及其組合 28
第三節(jié) 焦距和頂焦距的測量 36
參考文獻(xiàn) 43
第三章 光學(xué)材料測試 44
第一節(jié) 光學(xué)玻璃材料概述 44
第二節(jié) 光學(xué)玻璃折射率測量 54
第三節(jié) 光學(xué)玻璃光學(xué)均勻性測量 71
第四節(jié) 光學(xué)玻璃應(yīng)力雙折射測量 77
參考文獻(xiàn) 84
第四章 基本的光干涉測量技術(shù) 85
第一節(jié) 干涉條紋的分析判讀及波面質(zhì)量評價 86
第二節(jié) 幾種典型的干涉儀 98
第三節(jié) 波面錯位干涉測量 106
第四節(jié) 干涉圖分析與波面擬合 115
第五節(jié) 波像差及其測量 129
參考文獻(xiàn) 139
第五章 光電相位測量技術(shù) 140
第一節(jié) 相位的靜態(tài)測試技術(shù) 141
第二節(jié) 相位的動態(tài)測試技術(shù) 163
參考文獻(xiàn) 185
第六章 平面元件測試技術(shù) 186
第一節(jié) 平面元件基本量測量 186
第三節(jié) 平面光學(xué)元件面形偏差檢測 205
第三節(jié) 平面光學(xué)元件光學(xué)平行度測量 215
參考文獻(xiàn) 228
第七章 球面元件測試技術(shù) 229
第一節(jié) 球面曲率半徑測量 229
第二節(jié) 球面光學(xué)元件面形偏差檢測 245
參考文獻(xiàn) 252
第八章 非球面測試技術(shù) 253
第一節(jié) 非球面的基本知識 253
第二節(jié) 非球面面形測試方法 254
參考文獻(xiàn) 268
第九章 干涉測長技術(shù) 270
第一節(jié) 高精度量塊測量技術(shù) 270
第二節(jié) 激光干涉測長 284
參考文獻(xiàn) 295
第十章 莫爾條紋技術(shù) 296
第一節(jié) 莫爾條紋形成原理 296
第二節(jié) 莫爾條紋測量技術(shù) 302
參考文獻(xiàn) 309
第十一章 光學(xué)系統(tǒng)評價 310
第一節(jié) 光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法概述 310
第三節(jié) 分辨率測試 311
第三節(jié) 成像質(zhì)量評價的星點檢驗法 315
第四節(jié) 光學(xué)傳遞函數(shù) 318
第五節(jié) 干涉測量 328
參考文獻(xiàn) 335
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