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現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)

現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)

定  價:47.4 元

        

  • 作者:蘇俊宏,田愛玲,楊利紅編著
  • 出版時間:2013/3/1
  • ISBN:9787030366641
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁碼:335
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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讀者對象:相關(guān)專業(yè)的研究生,相關(guān)工程技術(shù)人員

現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)研究領(lǐng)域包括光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光偏振技術(shù)、光全息技術(shù)、光掃描技術(shù)、光散斑技術(shù)、莫爾技術(shù)、光譜技術(shù)、光纖技術(shù),等等!冬F(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》涉及內(nèi)容除基本光學(xué)測量技術(shù)外,主要以光干涉測試技術(shù)為主,介紹了各種光學(xué)量的測試原理及測試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)的基本理論及其發(fā)展;第三章介紹了光學(xué)材料及其基本參數(shù)的測試問題;第四章系統(tǒng)介紹了幾種常用的典型干涉儀;第五章是光電相位探測技術(shù);第六、七章分別介紹了平面元件與球面元件測試技術(shù);第八章介紹了非球面測試技術(shù)的基本知識及測試方法;第九章介紹了干涉測長技術(shù);第十章介紹了莫爾條紋測量技術(shù);第十一章介紹了光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法。
《現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)》具有理論與實踐密切結(jié)合、論述系統(tǒng)深入的特點,可作為相關(guān)專業(yè)的研究生教材,也可供相關(guān)工程技術(shù)人員作為設(shè)計光學(xué)測試系統(tǒng)的參考資料。


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