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半導(dǎo)體工藝與測試實驗

半導(dǎo)體工藝與測試實驗

定  價:34 元

叢書名:中山大學(xué)物理學(xué)實驗系列教程

        

  • 作者:謝德英 ... [等] 編
  • 出版時間:2015/3/1
  • ISBN:9787030436467
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN305 
  • 頁碼:182
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16K
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讀者對象:本書可作為高等院校微電子學(xué)、電子科學(xué)與技術(shù)、光電等專業(yè)本科生相關(guān)實驗課程的教材,也可作為從事微電子科學(xué)、電子器件、集成電路等工程研究和應(yīng)用相關(guān)人員的實驗技術(shù)參考書

  《半導(dǎo)體工藝與測試實驗》主要內(nèi)容包括半導(dǎo)體工藝的6個主要單項實驗、半導(dǎo)體材料特性表征與器件測試實驗、工藝和器件特性仿真實驗。并通過綜合流程實驗整合各單項實驗知識和技能,著重培養(yǎng)學(xué)生的半導(dǎo)體器件的綜合設(shè)計能力。

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