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軟件測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐研究

軟件測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐研究

定  價(jià):65 元

        

  • 作者:
  • 出版時(shí)間:2020/1/1
  • ISBN:9787522102009
  • 出 版 社:中國(guó)原子能出版社
  • 中圖法分類(lèi):TP311.55 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16K
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本書(shū)對(duì)軟件測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了系統(tǒng)研究,主要內(nèi)容包括:軟件測(cè)試基礎(chǔ)、軟件測(cè)試過(guò)程及測(cè)試過(guò)程管理、軟件白盒與黑盒測(cè)試、軟件單元測(cè)試、軟件集成測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試、軟件自動(dòng)化測(cè)試、軟件測(cè)試項(xiàng)目實(shí)踐研究、軟件測(cè)試技術(shù)的新發(fā)展等。本書(shū)條理清晰,內(nèi)容豐富,是一本值得學(xué)習(xí)研究的著作。
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