《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析》是面向硬件電路與系統(tǒng)的工程技術(shù)類書籍，通過對電子工程設(shè)計中的實際故障案例分析，幫助讀者形成硬件設(shè)計流程中電路調(diào)測和故障排查的方法體系。從研發(fā)設(shè)計人員的視角探求硬件電路與系統(tǒng)的測試測量、電路調(diào)試、故障分析以及解決方案，內(nèi)容涵蓋時鐘、電源、邏輯器件、總線、高速信號、測量技術(shù)等常規(guī)的硬件電路模塊。兼具理論性和工程實用性。
《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析》適合作為從事計算機、通信設(shè)備、高端儀器制造等行業(yè)的電路設(shè)計、開發(fā)專業(yè)工程師、研究人員的技術(shù)參考書，也可以作為電子科學(xué)技術(shù)、電子工程專業(yè)高年級本科生和研究生的參考用書。