偽集成電路是指不符合正品集成電路設(shè)計(jì)規(guī)范要求的非授權(quán)產(chǎn)品, 主要形式包括回收、重標(biāo)記、超量生產(chǎn)、不合格/有缺陷、克隆、偽造文件, 以及篡改等, 會(huì)大大降低應(yīng)用系統(tǒng)的安全性和可靠性。本書對(duì)偽集成電路相關(guān)問題進(jìn)行了全面剖析, 并系統(tǒng)闡述并分析了其檢測與防范方法。本書面向偽電子元件領(lǐng)域的初學(xué)者和專家, 全面介紹相關(guān)的研究背景、安全威脅、物理和電子測試方法、對(duì)抗偽IC的防偽設(shè)計(jì)方法等相關(guān)研究主題, 可為直接或間接受到偽元件強(qiáng)烈影響的政府、工業(yè)、測試實(shí)驗(yàn)室, 以及學(xué)術(shù)界提供必需的路線圖。