本書(shū)詳細(xì)介紹了集成電路測(cè)試的基本原理、測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試開(kāi)發(fā)方法。首先介紹了集成電路測(cè)試的相關(guān)概念和術(shù)語(yǔ)，集成電路測(cè)試的最新發(fā)展趨勢(shì)；其次詳細(xì)介紹了集成電路直流參數(shù)測(cè)試和模擬集成電路測(cè)試的基本方法；再次介紹了數(shù)字集成電路的基本測(cè)試方法，然后在此基礎(chǔ)。上重點(diǎn)介紹了數(shù)�；旌想娐�(ADC/DAC)測(cè)試方法。此外，本書(shū)還對(duì)集成電路測(cè)試系統(tǒng)(ATE)的結(jié)構(gòu)和工作原理、測(cè)試接口板(DIB)和測(cè)試程序開(kāi)發(fā)做了介紹。