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外觀設(shè)計專利制度原理與實務(wù)

外觀設(shè)計專利制度原理與實務(wù)

定  價:50 元

叢書名:IP知識產(chǎn)權(quán)專題研究書系

        

  • 作者:張鵬 徐曉雁
  • 出版時間:2015/8/31
  • ISBN:9787513037075
  • 出 版 社:知識產(chǎn)權(quán)出版社
  • 中圖法分類:G306.3 
  • 頁碼:448
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:32開
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       本書全面介紹外觀設(shè)計制度的基本原理,分析外觀設(shè)計專利申請、授權(quán)、確權(quán)、侵權(quán)判定的實務(wù)觀點,并對外觀設(shè)計制度的未來發(fā)展給出展望。本書共分五章,第一章是理論篇,重點闡述外觀設(shè)計法律制度的歷史沿革、比較法狀況,并分析外觀設(shè)計與各種類型的知識產(chǎn)權(quán)如何銜接協(xié)調(diào)。第二章是申請篇,重點分析外觀設(shè)計申請文件構(gòu)成、初步審查內(nèi)容,并結(jié)合典型案例對外觀設(shè)計合案申請的審查、保護(hù)客體的判斷、清楚表達(dá)的判定進(jìn)行解讀。第三章是確權(quán)篇,綜述外觀設(shè)計評價報告制度的基本情況,在分析外觀設(shè)計判斷主體的基礎(chǔ)上,重點研究專利法第二十三條第一、二、三款的法律適用。第四章是保護(hù)篇,重點分析外觀設(shè)計專利侵權(quán)判定的關(guān)鍵問題,包括外觀設(shè)計保護(hù)范圍的確定、外觀設(shè)計專利侵權(quán)行為的判定、外觀設(shè)計侵權(quán)抗辯的認(rèn)定和外觀設(shè)計侵權(quán)的法律責(zé)任。第五章是政策篇,闡述外觀設(shè)計制度與創(chuàng)意經(jīng)濟發(fā)展、外觀設(shè)計密集型產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)聯(lián)關(guān)系,分析如何運用外觀設(shè)計制度促進(jìn)創(chuàng)意產(chǎn)業(yè)和外觀設(shè)計密集型產(chǎn)業(yè)發(fā)展。
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